SEMI OCR 字型與 SEMI M12/M13 標準化
Barcodesoft 的 SEMI 字型套件專為完全符合全球半導體製造標準而設計，確保生產環境中具備高可靠性的追溯能力。本字型符合 Global Traceability Committee（全球追溯性委員會）與 North American Traceability Committee（北美追溯性委員會）認證，完美支援 SEMI M12/M13-1103 標準所定義之 26 個英文字母、10 個阿拉伯數字、連字號（減號）與句點的精確幾何形狀與幾何尺寸。
透過在標準 Windows 環境中部署此套件並搭配相容的雷射打標機，製造商即可精確地在晶圓（Wafer）上雕刻識別資料，其操作就如同列印一般辦公室文件一樣簡單。此外，該字型的幾何結構已針對高精度光學字元識別（OCR）軟體的工作流程進行了全面優化。
技術規格（於字型大小 12 pt 時）
當以 12 點（pt）大小算繪時，Barcodesoft SEMI (OCR) 字型符合以下精確的公稱尺寸：
| 尺寸指標 | 標準值 |
|---|---|
| 字元高度 | 1.624 mm |
| 字元寬度 | 0.812 mm |
| 線條粗細 | 0.200 mm |
| 字元間距 | 1.420 mm |
軟體套件組成內容
標準字型套件包含三種不同的 TrueType 選項，以支援特定的硬體配置：
- BcsSEMI： 傳統的 TrueType 向量字型。
- SEMI-Single-Simple： 單密度（Single Density）點陣字型變體。
- SEMI-Double-Simple： 雙密度（Double Density）點陣字型變體。
自動產生檢查碼 (Checksum)
為確保資料完整性，套件中隨附了 Windows 命令列工具 SEMIChecksum，可自動計算標準要求的強制性字串驗證碼。
* 備註：M12 標準嚴格評估 10 個字元的字串，而 M13 標準則需要輸入 16 個字元。可供下載的展示版本（Demo Version）在特定字元上包含保護用浮水印。
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超越基礎字型：專為高產量製造量身打造的工業級可靠性。
| 支援功能與能力 | 標準字型套件 | Wafer Marking Studio™ |
|---|---|---|
| 支援點陣密度 | 單倍 (1x), 雙倍 (2x) | 單倍 (1x), 雙倍 (2x), 三倍 (3x), 四倍 (4x) |
| 圓形幾何精確度 | 標準貝茲曲線，帶有輕微容差偏差 | 先進算繪引擎，可呈現數學上完美的正圓形 |
緩解表面粗糙度影響
晶圓背面未經拋光，會產生嚴重的背景雜訊。4X 四倍密度 算繪技術可創造出穩固、飽滿的線條，在標準 1X 點陣容易變形或消失的粗糙表面上，依然能保持清晰的可讀性。
耐受機械減薄製程
在現代 3D IC 封裝製程中，背面研磨（Backside Grinding）極易磨除微弱的標記。透過高重疊率的點陣配置，能確保晶圓 ID 在整個機械減薄週期後仍完整留存。
自動化追溯性保障
在全自動化無人無燈工廠（Dark Fabs）中，單次讀取錯誤（No-Read）就會導致整條處理線停機。此升級方案消除了追蹤盲點，有效避免高昂的停線損失與營運瓶頸。
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